ZXLK-C40粗糙度轮廓测量仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z1轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。
ZXLK-C40粗糙度轮廓测量仪已可同国外进口仪器性能相比,各方面指标已达到国际标准,仪器符合国家标准GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及国际标准ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求
1.轮廓测量功能
1) 尺寸:包含水平距离、垂直距离、线性距离、半径、直径
2) 夹角:包含水平角、垂直角、夹角 螺纹中径 大径 小径
3) 位置公差:包含平行度、垂直度
4) 形状公差:包含直线度、凸度、圆弧轮廓度
5) 辅助生成:包含辅助点、辅助线、辅助圆
2.粗糙度分析:Ra、Ramax、Ramin、Rasd、Rp、Rpmax、Rpmin、Rpsd、Rv、Rvmax、Rvmin、Rvsd、Rz、Rzmax、Rzmin、Rzsd、R3z、Rc、Rcmax、Rcmin、Rcsd、Rt、Rq、Rqmax、Rqmin、Rdsd、Rsk、Rskmax、Rsmin、Rsksd、Rku、Rkumax、Rkumin、Rkusd、Rsm、Rsmmax、Rsmmin、Rsmsd、Rs、R△a、R△amax、R△amin、R△asd、R△q、R△qmax、R△qmin、R△qsd、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、Rλa、Rλamax、Rλamin、Rλasd、Rλq、Rλqmax、Rλqmin、Rλqsd、Rδc、Rpc、Rmr。
3.波纹度分析:Wa、Wamax、Wamin、Wasd、Wsa、Wca、Wa08、Wc、Wcmax、Wcmin、Wcsd、Wt、Wz、Wzmax、Wzmin、Wzsd、Wp、Wpmax、Wpmin、Wpsd、Wv、Wvmax、Wvmin、Wcsd、Wq、Wqmax、Wqmin、Wqsd、Wsm、Wsmmax、Wsmmin、Wsmsd、Wsk、Wskmax、Wskmin、Wsksd、Wku、Wkumax、Wkumin、Wkusd、W△q、W△qmax、W△qmin、W△qsd、Wδc、Wmr。
4.原始轮廓分析:Pa、Pt、Pp、Pc、Pv、Pz、Pq、Psm、Psk、Pku、RzJ、Rpq、Rvq、Rmq、Pmr、P△q、Avh、Hmax、Hmin、Area、Pδc、Tilta。
测量范围 | X方向驱动器 | 130mm |
Z轴高度(立柱) | 550mm | |
粗糙度量程 | ±3000μm | |
轮廓仪量程 | 40毫米 | |
可检测最小内孔 | 16mm | |
粗糙度分辨率 | 0.001μm | |
轮廓技术参数 | 线性精度 | ±(0.7+|0.012H|)μm |
圆弧 | ±(1.2+R/12)μm | |
角度 | ±1′ | |
直线度 | 0.5μm/100mm | |
粗糙度技术参数 | 线性精度 | |
残值噪声 | ||
重复稳定性 | ||
截止波长 | ||
评定长度 | λcX1、2、3、4、5 | |
截止波长 | 0.0025、0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm | |
传感器 | 类型 | 美国 |
分辨率 | 0.02μm | |
产地 | 美国 | |
爬坡角度 | 上升77度 下降88度 | |
测量速度 | 0.05-20mm/s | |
Z轴速度 | 0.05-20mm/s | |
注:了解更多国电中星产品信息请进入 产品中心 。服务热线:400-0828-027
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