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ZXLK-C40粗糙度轮廓测量仪

GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998

参考标准:

●位置公差:包含平行度、垂直度

●形状公差:包含直线度、凸度、圆弧轮廓度

●辅助生成:包含辅助点、辅助线、辅助圆

注: 关于产品购买、技术维护等服务,欢迎致电! 4000-828-027
产品简介

ZXLK-C40粗糙度轮廓测量仪测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z1轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。

ZXLK-C40粗糙度轮廓测量仪已可同国外进口仪器性能相比,各方面指标已达到国际标准,仪器符合国家标准GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及国际标准ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求

性能特点
技术指标

测量范围

X方向驱动器

130mm

Z轴高度(立柱)

550mm

粗糙度量程

±3000μm

轮廓仪量程

40毫米

可检测最小内孔

16mm

粗糙度分辨率

0.001μm

轮廓技术参数

线性精度

±(0.7+|0.012H|)μm

圆弧

±(1.2+R/12)μm

角度

±1′

直线度

0.5μm/100mm

粗糙度技术参数

线性精度

残值噪声

重复稳定性

截止波长

评定长度

λcX1、2、3、4、5

截止波长

0.0025、0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm

传感器

类型

美国

分辨率

0.02μm

产地

美国

爬坡角度

上升77度 下降88度

测量速度

0.05-20mm/s

Z轴速度

0.05-20mm/s

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服务承诺
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